江苏帝奥微电子申请芯片测试模式进入专利,可安全进入测试模式

江苏帝奥微电子申请芯片测试模式进入专利,可安全进入测试模式金融界 2024 年 10 月 28 日消息 国家知识产权局信息显示 江苏帝奥微电子股份有限公司申请一项名为 一种芯片测试模式进入电路及方法 的专利 公开号 CN A 申请日期为 2024 年 9 月

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金融界2024年10月28日消息,国家知识产权局信息显示,江苏帝奥微电子股份有限公司申请一项名为“一种芯片测试模式进入电路及方法”的专利,公开号 CN A,申请日期为 2024 年 9 月。

专利摘要显示,本发明公开了一种芯片测试模式进入电路及方法,包含芯片、测试时钟源 Q1、第一测试数据源 Q2、第二测试数据源 Q3、开关 S1 和电源 V1,测试时钟源 Q1 的输出端与芯片的功能引脚 LED1 连接,第一测试数据源 Q2 的输出端与开关 S1 一端连接,开关 S1 另一端与芯片的功能引脚 LED2 连接,第二测试数据源 Q3 的输出端与芯片的功能引脚 LED3 连接,电源 V1 的正极与芯片的功能引脚 VBAT 连接,电源 V1 的负极与芯片的功能引脚 GND 连接并接地。本发明无需额外的引脚,可以安全进入测试模式,并且正常工作时不会误进入测试模式。

本文源自金融界

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